标准筛选

基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组 第1页

标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 11768-2020电阻器低频噪声参数测试方法现行2020-12-092021-04-01
SJ/T 11767-2020二极管低频噪声参数测试方法现行2020-12-092021-04-01
SJ/T 11766-2020光电耦合器件低频噪声参数测试方法现行2020-12-092021-04-01
SJ/T 11765-2020晶体管低频噪声参数测试方法现行2020-12-092021-04-01
SJ/T 11769-2020电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求现行2020-12-092021-04-01