| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11500-2015 | 碳化硅单晶晶向的测试方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 10465-2015 | 电容器用金属化聚酯薄膜 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 3328.10-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第10部分 铅的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 11637-2016 | 电子化学品 电感耦合等离子体质谱法通则 | 现行 | 2016-10-22 | 2017-01-01 |
| SJ/T 11515-2015 | 等离子显示器用无铅玻璃粉 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11499-2015 | 碳化硅单晶电学性能的测试方法 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11502-2015 | 碳化硅单晶抛光片规范 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11517-2015 | 电子工业用气体 一氧化碳 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11493-2015 | 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法 | 废止 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 3328.3-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第3部分 灼烧失量的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.5-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第5部分 铁的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.4-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第4部分 二氧化硅的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.6-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第6部分 铜的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.2-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第2部分 分析方法通则 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 11246-2014 | 真空开关管用陶瓷管壳 | 现行 | 2014-10-14 | 2015-04-01 |
| SJ/T 3328.8-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第8部分 铝的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.1-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第1部分 技术条件 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |
| SJ/T 3328.7-2016 | 电子产品用高纯石英砂 第7部分 铬的测定 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-06-01 |