| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11705-2018 | 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11700-2018 | IP核质量信息描述方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11707-2018 | 硅通孔几何测量术语 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11701-2018 | 通用NAND型快闪存储器接口 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11699-2018 | IP核可测性设计指南 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11706-2018 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11708-2018 | 功率电机驱动器测试方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11702-2018 | 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 2406-2018 | 微波电路型号命名方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |