| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JJF 1965-2022 | 锡膏厚度测量仪校准规范 | 现行 | 2022-04-29 | 2022-10-29 |
| JB/T 8393-1996 | 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 | 废止 | 1996-04-16 | 1996-10-01 |
| SY/T 0066-1999 | 钢管防腐层厚度的无损测量方法（磁性法） | 废止 | 1999-05-17 | 1999-12-01 |
| JB/T 7503-1994 | 金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 | 废止 | 1994-12-09 | 1995-10-01 |
| YS/T 14-1991 | 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法 | 废止 | 1991-04-26 | 1992-06-01 |
| JB/T 8270-1995 | 静电复印光导体膜层厚度测量方法 | 废止 | 1996-04-14 | 1996-04-14 |
| SY 0066-1992 | 管道防腐层厚度的无损测量方法(磁性法) | 废止 | 1992-06-30 | 1992-12-01 |
| GB/T 16921-1997 | 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法 | 废止 | 1997-07-25 | 1998-02-01 |
| DB21/T 2078-2013 | 电线电缆通用试验方法 绝缘厚度的测量 | 废止 | 2013-01-22 | 2013-02-22 |
| DB44/T 1207-2013 | 磁性和电涡流覆层厚度测量仪 | 废止 | 2013-12-06 | 2014-03-06 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| T/CSTM 00003-2019 | 二维材料厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2019-01-03 | 2019-02-01 |
| JB/T 8270-1999 | 静电复印光导体膜层厚度测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 5068-1991 | 金属覆盖层厚度测量 X射线光谱法 | 现行 | 1991-06-11 | 1992-07-01 |
| GB/T 6462-2025 | 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 11378-2025 | 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 轮廓仪法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/Z 129-2026 | 表面化学分析 电子能谱 纳米颗粒包覆层厚度和组成的测量 | 现行 | 2026-01-28 | |
| T/GDAQI 74-2021 | 电缆和光缆绝缘和护套的试验方法——厚度和外形尺寸全自动测量 | 现行 | 2021-12-01 | 2021-12-01 |