| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 44515-2024 | 微机电系统（MEMS）技术 MEMS压电薄膜机电转换特性测量方法 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-01-01 |
| HG/T 5077-2016 | 光学功能薄膜 近红外光谱透过率的测量方法 | 现行 | 2016-10-22 | 2017-04-01 |
| HG/T 4608-2014 | 光学功能薄膜 颜色的测量方法 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-10-01 |
| HG/T 2348-1992 | 磁带用聚酯薄膜表面粗糙度的测量触针法 | 现行 | 1992-06-01 | 1993-03-01 |
| GB/T 15053-2008 | 使用辐射显色薄膜和聚甲基丙烯酸甲酯剂量测量系统测量吸收剂量的标准方法 | 现行 | 2008-09-19 | 2009-08-01 |
| SJ/T 11207-1999 | 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| T/CSTM 01199-2024 | 多层金属薄膜 层结构测量分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| T/CSTM 00591-2022 | 石墨烯-铜薄膜材料电导率测量 范德堡法 | 现行 | 2022-01-10 | 2022-04-10 |
| HG/T 5659-2019 | 光学功能薄膜 黄变的测量方法 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-07-01 |
| HG/T 4951-2016 | 光学功能薄膜 对比度测量方法 | 现行 | 2016-01-15 | 2016-07-01 |
| GB/T 42709.8-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第8部分：带状薄膜拉伸特性测量的弯曲试验方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 29507-2013 | 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 22520-2008 | 厚度指示表 | 现行 | 2008-11-12 | 2009-05-01 |
| DB11/T 365-2016 | 钢筋保护层厚度和钢筋直径检测技术规程 | 现行 | 2016-10-20 | 2017-02-01 |
| TY/T2003.2-2021 | 运动面层性能测试方法 第2部分：厚度 | 现行 | 2021-07-08 | 2022-01-01 |
| DB41/T 2781-2024 | 公路大厚度水泥稳定碎石基层施工技术规程 | 现行 | 2024-11-07 | 2025-02-06 |
| DB61/T 1177-2018 | 低渗-特低渗砂岩油（气）层有效厚度解释技术要求 | 废止 | 2018-10-11 | 2018-11-11 |
| QX/T 69-2024 | 气溶胶光学厚度 太阳光度计法 | 现行 | 2024-08-16 | 2024-12-01 |