主要技术内容
本文件规定了范德堡法测量石墨烯-铜薄膜材料电导率的术语和定义、原理、仪器设备、样品及样品准备、测量过程、不确定度评定和报告。本文件适用于石墨烯-铜复合材料制成的薄膜样品体积电阻率、电导率的测量。所提供的方法适合测量体积电阻率大于1×10-8 Ω·m且样品平均厚度在0.1 mm~3 mm范围内的薄膜或者薄片状样品。
Measurement of the conductivity of graphene-copper film materials—Van der Pauw method
现行
2022-01-10
2022-04-10
本文件规定了范德堡法测量石墨烯-铜薄膜材料电导率的术语和定义、原理、仪器设备、样品及样品准备、测量过程、不确定度评定和报告。 本文件适用于石墨烯-铜复合材料制成的薄膜样品体积电阻率、电导率的测量。所提供的方法适合测量体积电阻率大于1×10-8 Ω·m且样品平均厚度在0.1 mm~3 mm范围内的薄膜或者薄片状样品。
本文件规定了范德堡法测量石墨烯-铜薄膜材料电导率的术语和定义、原理、仪器设备、样品及样品准备、测量过程、不确定度评定和报告。本文件适用于石墨烯-铜复合材料制成的薄膜样品体积电阻率、电导率的测量。所提供的方法适合测量体积电阻率大于1×10-8 Ω·m且样品平均厚度在0.1 mm~3 mm范围内的薄膜或者薄片状样品。
中车工业研究院有限公司、中国计量科学研究院、上海交通大学、江南石墨烯研究院、中国科学院宁波材料技术与工程研究所
章潇慧、侯瑞芬、杨为三、李硕、熊定邦、郭国标、汪伟
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