半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法

Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)

GB/T 24468-2025推荐性国家标准

即将实施

上传时间:2026-03-19
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GB/T 24468-2025 相似标准 第12页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
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DB34/T 4733-2024自动扶梯和自动人行道安全可靠性评估规范现行2024-03-212024-04-21
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DL/T 2596-2023智能电能表现场运行可靠性试验规程现行2023-05-262023-11-26
GB/T 38195-2019机床数控系统 可靠性管理现行2019-10-182020-05-01