| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10481-1994 | 硅外延层电阻率的面接触三探针方法 | 现行 | 1994-04-11 | 1994-10-01 |
| GB/T 11446.4-2013 | 电子级水电阻率的测试方法 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-08-15 |
| JB/T 12254-2015 | 微电机用电刷及触点电阻率试验方法 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-03-01 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 34520.6-2017 | 连续碳化硅纤维测试方法 第6部分：电阻率 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-02-01 |
| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 12968-1991 | 纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法 | 现行 | 1991-06-04 | 1992-03-01 |
| GB/T 5167-2018 | 烧结金属材料和硬质合金 电阻率的测定 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 351-2019 | 金属材料 电阻率测量方法 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| GB/T 1692-2008 | 硫化橡胶 绝缘电阻率的测定 | 现行 | 2008-04-01 | 2008-09-01 |
| GB/T 3048.3-2007 | 电线电缆电性能试验方法 第3部分：半导电橡塑材料体积电阻率试验 | 现行 | 2007-12-03 | 2008-05-01 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CASME 2020-2025 | 低温封接玻璃体积电阻率的测定 | 现行 | 2025-07-04 | 2025-08-07 |
| T/NMRJ 013-2023 | 土壤电阻率测定 温纳装置法 | 现行 | 2024-01-16 | 2024-01-16 |
| T/GRM 079-2023 | 岩石电阻率测试及各向异性表征方法 | 现行 | 2023-11-29 | 2023-11-29 |
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-15 | 2023-10-30 |
| T/CSTM 00252-2020 | 碳纤维体积电阻率试验方法 四探针法 | 现行 | 2020-07-24 | 2020-10-24 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |