Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1494-2021 | 高纯金化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2022-04-01 | 找相似 |
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| XB/T 628-2020 | 高纯稀土金属化学分析方法痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2021-04-01 | 找相似 |
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| YS/T 1011-2014 | 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2015-04-01 | 找相似 |
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| GB/T 13946-1992 | 辉光放电显示管空白详细规范(可供认证用) | 废止 | 1993-08-01 | 找相似 |
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| GB 19510.2-2005 | 灯的控制装置 第2部分:启动装置(辉光启动器除外)的特殊要求 | 废止 | 2005-08-01 | 找相似 |
| GB 20550-2006 | 荧光灯用辉光启动器 | 废止 | 2007-07-01 | 找相似 |
| GB 19510.2-2009 | 灯的控制装置 第2部分:启动装置 (辉光启动器除外)的特殊要求 | 废止 | 2010-12-01 | 找相似 |
| GB/T 32996-2016 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 废止 | 2017-09-01 | 找相似 |
| DB35/T 1146-2011 | 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2011-07-10 | 找相似 |