采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法

Test method for measuring trace elements in photovoltaic-grade silicon by high-mass resolution glow discharge mass spectrometry

GB/T 32651-2016 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2016-04-25

实施日期

2016-11-01

基础信息

标准号

GB/T 32651-2016

批准发布部门

国家标准委

发布部门

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

技术归口

国家标准委

标准分类

中国标准分类号

H82

国际标准分类号

29.045

标准层级

国家标准

专题

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