Space environment—General requirements for space environmental effect simulation tests of aerospace electronic components
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11227-2000 | 电子元器件详细规范 3DA98型NPN硅高频大功率晶体管 | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 11002-2018 | 电子元器件详细规范 CBB111型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E | 现行 | 2018-04-30 | 2018-07-01 |
| SJ/T 2421-1996 | 电子元器件用镀锡铜包钢线 | 现行 | 1996-07-22 | 1996-11-01 |
| SJ/T 11224-2000 | 电子元器件详细规范 WIW141型螺杆驱动预调电位器 评定水平E | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10774-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |
| SJ/T 10225-1991 | 电子元器件图形库--机电元件图形 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| SJ/T 11845.2-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10799-2000 | 电子元器件详细规范 MF53-1型直热式负温度系数热敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10630-1995 | 电子元器件制造防静电技术要求 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 11225-2000 | 电子元器件详细规范 3DA504型S波段硅脉冲功率晶体管 | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 11226-2000 | 电子元器件详细规范 3DA505型L波段硅脉冲功率晶体管 | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10221-1991 | 电子元器件制造质量控制指南 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10012-2018 | 电子元器件详细规范CBB23型双面金属化聚丙烯膜介质 直流固定电容器 评定水平 E | 现行 | 2018-04-30 | 2018-07-01 |
| GB/T 5594.3-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 5593-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 5594.4-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| T/CI 544-2024 | 低维半导体材料生长 、表征及电子元器件制作流程规范 | 现行 | 2024-10-08 | 2024-10-08 |
| T/CPSS 1013-2021 | 开关电源电子元器件降额技术规范 | 现行 | 2021-08-27 | 2021-09-01 |