Terminology, classification and model compilation method for complete sets of equipment for fiber carbonization production
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43493.1-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| DL/T 818-2002 | 低合金耐热钢碳化物相分析技术导则 | 现行 | 2002-04-27 | 2002-09-01 |
| JB/T 8340-2013 | 碳化硅特种制品 重结晶碳化硅热电偶保护管 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| JB/T 7855-1995 | 碳化钨钢结硬质合金自由锻件技术条件 | 现行 | 1995-12-01 | 1996-07-01 |
| JB/T 3890-2017 | 碳化硅特种制品 硅碳棒 | 现行 | 2017-11-07 | 2018-04-01 |
| JB/T 7775.1-2008 | 铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第1部分：碘量法测定铜量 | 现行 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| JB/T 7779-2008 | 银碳化钨（12）石墨（3）电触头技术条件 | 废止 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| JB/T 3294-2017 | 普通磨料 碳化硼 | 现行 | 2017-11-07 | 2018-04-01 |
| JB/T 7778.1-2008 | 银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分：硫氰酸盐容量法测定银量 | 现行 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| JB/T 5204-2018 | 碳化硅脱氧剂化学分析方法 | 现行 | 2018-12-21 | 2019-10-01 |
| JB/T 6647-2011 | 碳化物中总碳含量的测定 气体容量法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| JB/T 7778.4-2008 | 银碳化钨电触头材料化学分析方法 第4部分：酸分离-气体容量法测定游离碳量 | 现行 | 2008-02-01 | 2008-07-01 |
| JB/T 6374-2020 | 机械密封用碳化硅密封环 技术条件 | 现行 | 2020-08-31 | 2021-04-01 |
| JB/T 10645-2020 | 碳化硅特种制品 氮化硅结合碳化硅 烧嘴套 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 10449-2020 | 碳化硅特种制品 重结晶碳化硅 方梁 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 13946-2020 | 碳化硅特种制品 反应烧结碳化硅 悬臂桨 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |