Substrate glass for amorphous silicon thin film transistor liquid crystal display device
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB53/T 747-2016 | 多晶硅生产回收氢气中氯化氢含量的测定 气相色谱法 | 废止 | 2016-03-10 | 2016-06-01 |
| GB/T 24582-2009 | 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 25074-2010 | 太阳能级多晶硅 | 废止 | 2010-09-02 | 2011-04-01 |
| GB/T 29055-2012 | 太阳电池用多晶硅片 | 废止 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| GB/T 29054-2012 | 太阳能级铸造多晶硅块 | 废止 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| GB/T 29057-2012 | 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 | 废止 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| GB 29447-2012 | 多晶硅企业单位产品能源消耗限额 | 废止 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| GB/T 12963-2014 | 电子级多晶硅 | 废止 | 2014-12-31 | 2015-09-01 |
| GB/T 25074-2017 | 太阳能级多晶硅 | 废止 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| DB36/ 652-2012 | 太阳能级多晶硅单位产品能源消耗限额 | 废止 | 2012-02-10 | 2012-05-01 |
| DB53/T 499-2013 | 多晶硅用三氯氢硅 | 废止 | 2013-08-01 | 2013-10-01 |
| DB53/T 501-2013 | 多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2013-08-01 | 2013-10-01 |
| DB53/T 500-2013 | 多晶硅用三氯氢硅组分含量测定 气相色谱法 | 废止 | 2013-08-01 | 2013-10-01 |
| DB36/ 771-2013 | 直拉单晶硅单位产品能源消耗限额 | 废止 | 2013-12-25 | 2014-02-01 |
| T/ZZB 1927-2020 | 自动单晶硅棒切方机 | 现行 | 2020-11-20 | 2020-12-01 |
| T/CESA 1082-2020 | 多晶硅制造业绿色工厂评价要求 | 现行 | 2020-06-20 | 2020-06-20 |
| T/ZZB 1389-2019 | 单晶硅光伏电池 | 现行 | 2019-11-27 | 2019-12-31 |
| T/CEMIA 018-2019 | 光伏多晶硅用熔融石英陶瓷坩埚 | 现行 | 2019-08-01 | 2019-11-01 |