DB21/T 4067-2024 相似标准 第12页

更新时间 2026-10-28
标准号标准名称状态实施日期相似标准
GB/T 4937.38-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法即将实施2026-07-01找相似
GB/T 4937.44-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法即将实施2026-07-01找相似
GB/T 4937.37-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分:采用加速度计的板级跌落试验方法即将实施2026-07-01找相似
GB/T 4937.8-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封即将实施2026-07-01找相似
GB/T 4937.39-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分:半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量即将实施2026-07-01找相似
GB/T 4937.40-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:采用应变仪的板级跌落试验方法即将实施2026-07-01找相似
GB/T 4937.9-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分:标志耐久性即将实施2026-09-01找相似
GB/T 4937.41-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法即将实施2026-09-01找相似
GB/T 4937.16-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分:粒子碰撞噪声检测(PIND)即将实施2026-05-01找相似
GB/T 4937.10-2025半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 器件和组件即将实施2026-07-01找相似
GB/T 4937.201-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分:对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输即将实施2026-11-01找相似
GB/T 4937.28-2026半导体器件 机械和气候试验方法 第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试 带电器件模型(CDM) 器件级即将实施2026-09-01找相似
GB/T 47599-2026塑料 标准气候老化试验方法中性能变化的表观活化能测定即将实施2026-12-01找相似
YD/T 2379.3-2026电信设备环境试验要求和试验方法 第3部分:无气候防护场所固定使用的设备即将实施2026-11-01找相似
GB/T 34614-2026光伏玻璃 温和气候下城市环境自然曝露试验方法及性能评价即将实施2027-03-01找相似
SC/T 9404-2012水下爆破作业对水生生物资源及生态环境损害评估方法现行2013-03-01找相似
DB51/T 1445-2012空中水资源评估方法 [四川省]现行2012-08-01找相似
DB15/T 577-2025太阳能资源计算与评估方法 [内蒙古自治区]废止2025-04-28找相似