| GB/T 4937.38-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分:带存储的半导体器件的软错误试验方法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.44-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.37-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第37部分:采用加速度计的板级跌落试验方法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.8-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.39-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第39部分:半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
| GB/T 4937.40-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:采用应变仪的板级跌落试验方法 | 即将实施 | 2026-07-01 | 找相似 |
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| GB/T 4937.41-2026 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-09-01 | 找相似 |
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| SC/T 9404-2012 | 水下爆破作业对水生生物资源及生态环境损害评估方法 | 现行 | 2013-03-01 | 找相似 |
| DB51/T 1445-2012 | 空中水资源评估方法 [四川省] | 现行 | 2012-08-01 | 找相似 |
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