Non-destructive testing—Terminology—Part 10：Magnetic memory testing
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 11602.1-2013 | 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第1部分： 电压分压检测 | 现行 | 2014-07-01 | 找相似 |
| GB/T 32073.1-2025 | 无损检测 测量残余应力的超声检测方法 第1部分:临界折射纵波法 | 现行 | 2025-12-31 | 找相似 |
| GB/T 23901.2-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| GB/T 41105.2-2021 | 无损检测 X射线管电压的测量和评价 第2部分：厚板滤波法稳定性核查 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 14480.3-2020 | 无损检测仪器 涡流检测设备 第3部分：系统性能和检验 | 现行 | 2021-07-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.4-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第4部分：像质值和像质表的实验评价 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.5-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第5部分：双丝型像质计图像不清晰度的测定 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.1-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第1部分：丝型像质计像质值的测定 | 现行 | 2019-12-01 | 找相似 |
| GB/T 41123.1-2021 | 无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第1部分：原理、设备和样品 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 41105.1-2021 | 无损检测 X射线管电压的测量和评价 第1部分：分压法 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 41105.3-2021 | 无损检测 X射线管电压的测量和评价 第3部分：能谱法 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 41123.2-2021 | 无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第2部分：操作和解释 | 现行 | 2022-07-01 | 找相似 |
| GB/T 23901.3-2019 | 无损检测 射线照相检测图像质量 第3部分：像质分类 | 现行 | 2020-01-01 | 找相似 |
| GB/T 15822.2-2024 | 无损检测 磁粉检测 第2部分：检测介质 | 现行 | 2024-09-29 | 找相似 |
| GB/T 15822.1-2024 | 无损检测 磁粉检测 第1部分：总则 | 现行 | 2024-09-29 | 找相似 |
| GB/T 18851.2-2024 | 无损检测 渗透检测 第2部分：渗透材料的检验 | 现行 | 2024-12-31 | 找相似 |
| GB/T 15822.3-2024 | 无损检测 磁粉检测 第3部分：设备 | 现行 | 2024-09-29 | 找相似 |
| GB/T 18851.1-2024 | 无损检测 渗透检测 第1部分：总则 | 现行 | 2024-11-28 | 找相似 |