| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CSTM 00168-2020 | 石墨烯粉体材料判定指南 | 现行 | 2020-03-23 | 2020-06-23 |
| T/SPSTS 013-2019 | 石墨烯粉体材料中碳、氢、氧、氮、硫元素含量的测定方法 元素分析仪法 | 现行 | 2019-12-30 | 2019-12-30 |
| T/CASME 1406-2024 | 锂电粉体材料复合机 | 现行 | 2024-03-29 | 2024-04-01 |
| JB/T 8736-1998 | 电力半导体模块用氮化铝陶瓷基片 | 现行 | 1998-05-28 | 1998-11-01 |
| GB/T 39975-2021 | 氮化铝陶瓷散热基片 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| SJ/T 12006-2025 | 功率半导体封装用活性金属钎焊(AMB)氮化铝陶瓷覆铜基板 | 现行 | 2025-09-09 | 2026-03-01 |
| SJ/T 10551-1994 | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-08-08 | 1994-12-01 |
| SJ/T 10552-1994 | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-08-08 | 1994-12-01 |
| SJ/T 10553-1994 | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-08-08 | 1994-12-01 |
| SJ/T 10553-2021 | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| SJ/T 10552-2021 | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| SJ/T 10551-2021 | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| JC/T 2143-2012 | 四方氧化锆多晶陶瓷材料 | 现行 | 2012-12-28 | 2013-06-01 |
| YY/T 1715-2020 | 外科植入物 氧化钇稳定四方氧化锆（Y-TZP）陶瓷材料 | 现行 | 2020-06-30 | 2021-06-01 |
| GB/T 16528-1996 | 压敏电阻器用氧化锌陶瓷材料 | 现行 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| T/CAMDI 088-2022 | 牙科学 增材制造（光固化）氧化锆陶瓷材料要求 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-01-01 |
| JC/T 2527-2019 | 彩色氧化锆陶瓷材料 | 现行 | 2019-05-02 | 2019-11-01 |
| XB/T 631-2023 | 稀土复合钇锆陶瓷材料化学分析方法 氧化锆、氧化钇和氧化铪含量的测定 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |