Optical functional films—Superficial hardening film—Determination of thickness of hardening coating
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB32/T 4378-2022 | 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法 | 现行 | 2022-10-23 | 2022-11-23 |
| T/CI 003-2023 | 橡胶表面碳薄膜制备及评价方法 | 现行 | 2023-01-09 | 2023-01-09 |
| GB/T 22586-2008 | 高温超导薄膜微波表面电阻测试 | 废止 | 2008-12-15 | 2009-05-01 |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 44926-2024 | 纳米技术 微区表面及亚表面表征 光学暗场共焦显微法 | 现行 | 2024-12-31 | 2025-07-01 |
| GB/T 1185-2006 | 光学零件表面疵病 | 现行 | 2006-12-13 | 2007-07-01 |
| GB/T 41805-2022 | 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 16601-1996 | 光学表面激光损伤阈值测试方法 第1部分:1对1测试 | 废止 | 1996-11-07 | 1997-04-01 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 22461.3-2026 | 表面化学分析 词汇 第3部分：光学界面分析术语 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| HG/T 4302-2012 | 耐候阻隔绝缘性功能薄膜 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| GB/T 33052-2016 | 微孔功能薄膜 孔隙率测定方法 十六烷吸收法 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-05-01 |
| T/GDEIA 02-2016 | 抗静电耐酸保护功能薄膜 | 现行 | 2016-09-25 | 2016-10-01 |
| T/QGCML 2634-2023 | 高润湿张力BOPP环保功能薄膜 | 现行 | 2023-12-12 | 2023-12-27 |
| GB/T 46135.2-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第2部分：光学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 12612-2005 | 多功能钢铁表面处理液通用技术条件 | 现行 | 2005-06-23 | 2005-12-01 |
| JB/T 13028-2017 | 静电复印（打印、多功能）设备用光导鼓表面电位均匀性测量方法标准 | 现行 | 2017-01-09 | 2017-07-01 |