Nanotechnology—Fabrication of three dimensional nanostructures and devices—A strain method induced by ion beam irradiation
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CPCIF 0041-2020 | 钢结构用纳米材料填充环氧防腐底漆 | 现行 | 2020-04-07 | 2020-07-07 |
| T/GDC 29-2019 | 纳米改性高密度聚乙烯（MUHDPE）缠绕 结构壁管（A型） | 现行 | 2019-08-28 | 2019-09-15 |
| WW/T 0117-2023 | 石窟寺三维数字化采集与加工 | 现行 | 2023-12-06 | 2024-07-01 |
| WW/T 0115-2023 | 可移动文物三维数字化采集与加工 | 现行 | 2023-12-06 | 2024-07-01 |
| JB/T 12394-2015 | 机械加工工艺信息三维标注规范 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-03-01 |
| T/NLIA 008-2021 | 透明硬脆材料三维轮廓激光加工规程 | 现行 | 2021-10-08 | 2021-10-10 |
| T/CI 345-2024 | 磁场辅助纳米流体微量润滑平面磨削加工工艺规范 | 现行 | 2024-05-06 | 2024-05-06 |
| GB/T 5594.2-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 5594.7-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 5594.1-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 5594.8-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 5594.5-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 41852-2022 | 半导体器件 微机电器件 MEMS结构黏结强度的弯曲和剪切试验方法 | 现行 | 2022-10-12 | 2022-10-12 |
| GB/T 5594.6-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 41032-2021 | 宇航用元器件结构分析通用指南 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 5594.3-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 37502-2019 | 电真空器件结构材料用铜镍合金棒 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 5593-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |