Test methods of the performances for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 5594.3-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 5594.4-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| GB/T 43590.501-2024 | 激光显示器件 第5-1 部分：激光前投影显示光学性能测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| T/CSMT NY002-2024 | 温差发电器件性能测试方法 | 现行 | 2024-12-10 | 2025-01-10 |
| T/CAIA YQ007-2021 | 电子倍增电荷耦合成像器件光电性能通用测试方法 | 现行 | 2021-07-30 | 2021-08-15 |
| SN/T 1667.2-2007 | 进出口机电产品检测方法 第2部分：彩色液晶显示器件电光性能的测量 | 废止 | 2007-12-24 | 2008-07-01 |
| T/ZSA 18-2020 | 液晶显示器件视场光学性能测试方法 | 现行 | 2020-11-18 | 2020-12-19 |
| T/TIAA 003-2015 | 车用触控显示器件触控性能测量方法 | 现行 | 2015-10-24 | |
| T/ZSA 18-2020 | 液晶显示器件视场光学性能测试方法 | 现行 | 2020-11-18 | 2020-12-19 |
| T/CIMA 0137-2024 | 温差电器件致冷性能测试方法 | 现行 | 2024-09-24 | 2024-10-28 |
| GB/T 47239.9-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第9部分：一晶体管一电阻式（1T1R）电阻存储单元性能测试方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-09-01 |
| YD/T 6779.1-2026 | 无线通信系统无源传输器件 电气性能测试方法 第1部分：总则 | 即将实施 | 2026-04-15 | 2026-08-01 |
| GB/T 38001.54-2026 | 柔性显示器件 第5-4部分：可拉伸光学性能测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2026-12-01 |
| GB/T 20521.12-2026 | 半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| YD/T 1954-2022 | 弯曲损耗不敏感单模光纤特性 | 现行 | 2022-04-24 | 2022-07-01 |
| NY/T 4178-2022 | 大豆开花期光温敏感性鉴定技术规程 | 现行 | 2022-11-11 | 2023-03-01 |
| YD/T 4134-2022 | 工业互联网 时间敏感网络需求及场景 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-01-01 |
| NY/T 4142-2022 | 动物源细菌抗菌药物敏感性测试技术规程 微量肉汤稀释法 | 现行 | 2022-07-11 | 2022-10-01 |