Radiation protection instrumentation—Radon and radon decay product measuring instruments—Part 2：Specific requirements for 222Rn and 220Rn measuring instruments
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 34075-2017 | 普通照明用LED产品光辐射安全测量方法 | 现行 | 2017-07-31 | 2018-02-01 |
| GB/T 33866-2017 | 太阳紫外辐射测量 宽带紫外辐射表法 | 现行 | 2017-07-12 | 2018-02-01 |
| T/KJDL 005.1-2023 | 消费电子产品模组件电磁兼容通用要求 第1部分：辐射骚扰测量方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-01-01 |
| YD/T 1484.2-2016 | 无线终端空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 第2部分：GSM无线终端 | 现行 | 2016-07-11 | 2016-10-01 |
| YD/T 1484.4-2017 | 无线终端空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 第4部分：WCDMA无线终端 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-07-01 |
| YD/T 1536-2018 | 电信设备的电磁辐射信息泄露要求和测量方法 | 现行 | 2018-12-21 | 2019-04-01 |
| SJ/T 2658.6-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分：辐射功率 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| YD/T 1484.5.5-2016 | 无线终端空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 第5部分：TD-SCDMA无线终端 | 现行 | 2016-04-05 | 2016-07-01 |
| SJ/T 2658.7-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.12-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.8-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.13-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分：辐射功率温度系数 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11552-2015 | 以布鲁斯特角入设P偏振辐射红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 2658.9-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| EJ/T 1204.2-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量 | 现行 | 2006-12-15 | 2007-05-01 |
| EJ/T 1204.3-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第3部分：忽略样品处理影响的高分辨率γ能谱法计数测量 | 现行 | 2006-12-15 | 2007-05-01 |
| EJ/T 1204.4-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第4部分：忽略样品处理影响的线性标度模拟率表测量 | 现行 | 2006-12-15 | 2007-05-01 |
| EJ/T 1204.1-2006 | 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第1部分：忽略样品处理影响的计数测量 | 现行 | 2006-12-15 | 2007-05-01 |