首页/行业标准/SJ电子 / SJ/T 2658.9-2015

半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角

SJ/T 2658.9-2015 SJ电子

现行

标准状态

发布日期

2015-10-10

实施日期

2016-04-01

基础信息

标准号

SJ/T 2658.9-2015

批准发布部门

工业和信息化部

技术归口

工业和信息化部电子工业标准化研究院

制修订

修订

标准分类

中国标准分类号

L53

国际标准分类号

31.080

标准类别

方法标准

标准分类

电子

标准层级

行业标准

备案信息

备案号

52036-2015

备案日期

2015-11-20

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

SJ/T 2658.9-2015 相关专题

SJ/T 2658.9-2015 相似标准

标准号 标准名称 状态 发布日期 实施日期
SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法 现行 2009-11-17 2010-01-01
SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法 现行 2015-04-30 2015-10-01
SJ/T 11763-2020 半导体制造设备人机界面规范 现行 2020-12-09 2021-04-01
GB/T 31359-2015 半导体激光器测试方法 现行 2015-02-04 2015-08-01
GB/T 35010.6-2018 半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求 现行 2018-03-15 2018-08-01
GB/T 14548-1993 船用半导体变流器通用技术条件 废止 1993-07-31 1994-02-01
GB/T 7092-2021 半导体集成电路外形尺寸 现行 2021-03-09 2021-10-01
T/ZZB 2283-2021 半导体级碳化硅单晶用超高纯石墨粉 现行 2021-08-26 2021-09-26
GB/T 1555-2023 半导体单晶晶向测定方法 现行 2023-08-06 2024-03-01
GB/T 44687-2024 超硬磨料制品 半导体晶圆精密磨削用砂轮 现行 2024-09-29 2025-04-01
SJ/T 1832-2016 半导体分立器件 3DK102型ＮＰＮ硅小功率开关晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
JB/T 7483-2005 半导体电阻应变式力传感器 现行 2005-05-18 2005-11-01
SJ/T 10139-1991 半导体调频广播接收机用中频变压器 现行 1991-04-02 1991-07-01
SJ/T 10041-1991 半导体集成电路CMOS4000系列移位寄存器 现行 1991-04-08 1991-07-01
GB/T 15529-1995 半导体发光数码管空白详细规范 现行 1995-04-06 1995-11-01
GB/T 35010.7-2018 半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式 现行 2018-03-15 2018-08-01
SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法 现行 2009-11-17 2010-01-01
SJ/T 1472-2016 半导体分立器件 3CG110型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范 现行 2016-04-05 2016-09-01
T/SZBSIA 007-2022 IC类半导体固晶机检测规范 现行 2022-09-23 2022-09-24
GB/T 35010.8-2018 半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式 现行 2018-03-15 2018-08-01
T/ZZB 1718-2023 半导体封装用键合金丝 现行 2024-11-14 2024-12-14
GB/T 46227-2025 半导体单晶材料透过率测试方法 即将实施 2025-08-29 2026-03-01
SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分：辐射功率温度系数 现行 2015-10-10 2016-04-01
T/QGCML 3970-2024 半导体车间金属粉尘智能检测分析系统 现行 2024-03-27 2024-04-11
GB/T 29856-2013 半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法 现行 2013-11-12 2014-04-15
SJ/T 10663-1995 电视和声音信号电缆分配系统光纤设备与部件测量方法 现行 1995-08-18 1995-01-01