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半导体管特性图示仪校准规范

Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers

JJF 1236-2010计量规范

现行

更新日期：2026-09-12

标准状态

发布日期

2010-01-05

实施日期

2010-04-05

基础信息

标准号

JJF 1236-2010

批准发布部门

国家质量监督检验检疫总局

技术归口

全国无线电计量技术委员会

标准分类

标准层级

计量规范

起草单位

中国电子技术标准化研究所

起草人

陈连启、于利红、刘冲

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