半导体器件 恒流电迁移试验

Semiconductor devices—Constant current electromigration test

GB/T 45722-2025推荐性国家标准

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更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
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SJ/T 1833-2016半导体分立器件 3DK103型NPN硅小功率开关晶体管详细规范现行2016-04-052016-09-01
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SJ/T 1834-2016半导体分立器件 3DK104型NPN硅小功率开关晶体管详细规范现行2016-04-052016-09-01
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SJ/T 1472-2016半导体分立器件 3CG110型硅PNP高频小功率晶体管详细规范现行2016-04-052016-09-01
SJ/T 1838-2016半导体分立器件 3DK29型NPN硅小功率开关晶体管详细规范现行2016-04-052016-09-01
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