Surface chemical analysis—Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES)
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22461-2008 | 表面化学分析 词汇 | 废止 | 2008-10-30 | 2009-06-01 |
| GB/T 6609.35-2009 | 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第35部分：比表面积的测定 氮吸附法 | 废止 | 2009-04-15 | 2010-02-01 |
| GB/T 32996-2016 | 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜 | 废止 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |
| GB/Z 122-2025 | 表面化学分析 辉光放电质谱 操作程序 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 22461.3-2026 | 表面化学分析 词汇 第3部分：光学界面分析术语 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47073-2026 | 表面化学分析 深度剖析 中能离子散射术对硅基底上纳米尺度重金属氧化物薄膜的无损深度剖析 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/Z 134-2026 | 表面化学分析 生物传感功能化玻璃基底的表征 | 现行 | 2026-01-28 | |
| GB/T 34326-2026 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47065-2026 | 表面化学分析表面表征 共聚焦荧光显微镜横向分辨的测量 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47101-2026 | 表面化学分析 扫描探针显微术 用原子力显微镜和两点JKR法测量柔顺材料弹性模量的程序 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 12128.2-1999 | 用于校准表面污染监测仪的参考源 第2部分:能量低于0.15MeV的电子和能量低于1.5MeV的光子 | 现行 | 1999-12-30 | 2000-08-01 |
| SN/T 3480.1-2013 | 进出口电子电工工业成套设备检验技术要求 第1部分：印刷线路板表面贴装设备 | 现行 | 2013-03-01 | 2013-09-16 |
| GB/T 19247.1-2003 | 印制板组装 第1部分:通用规范 采用表面安装和相关组装技术的电子和电气焊接组装的要求 | 现行 | 2003-07-02 | 2003-10-01 |
| GB/T 21038-2007 | 电子设备用固定电容器 第21-1部分：空白详细规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器 评定水平 EZ | 现行 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |
| GB/T 21040-2007 | 电子设备用固定电容器 第22-1部分: 空白详细规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器 评定水平 EZ | 现行 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |
| SN/T 4240-2015 | 电子电气产品 金属部件表面镀镍层中铅、镉含量测定 电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2015-05-26 | 2016-01-01 |
| GB/T 15448-2013 | 电子设备用固定电容器 第19部分:分规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-08-15 |