Thickness measurements for ultrathin silicon oxide layers on silicon wafers X-ray photoelectron spectroscopy
现行
2010-09-26
2011-08-01
GB/T 25188-2010
中国科学院
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
中国科学院
G04
71.040.40
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| NY/T 2831-2015 | 伊犁马 | 现行 | 2015-10-09 | 2015-12-01 |