Specification for a universal wafer grid
现行
2019-03-25
2020-02-01
GB/T 16595-2019
国家标准委
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H80
29.045
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 26066-2010 | 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 44631-2024 | 晶片承载器传输并行接口要求 | 现行 | 2024-09-29 | 2025-04-01 |
| GB/T 30118-2013 | 声表面波(SAW)器件用单晶晶片规范与测量方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 26745-2021 | 土木工程结构用玄武岩纤维复合材料 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| NY/T 2951.3-2016 | 盲蝽综合防治技术规范 第3部分:茶树 | 现行 | 2016-10-26 | 2017-04-01 |