砷化镓晶片热稳定性的试验方法

SJ/T 11497-2015SJ电子

现行

更新日期:2026-06-10

标准状态

发布日期

2015-04-30

实施日期

2015-10-01

基础信息

标准号

SJ/T 11497-2015

批准发布部门

工业和信息化部

制修订

制定

标准分类

标准类别

方法标准

标准分类

电子

中国标准分类号

H83

国际标准分类号

29.045

标准层级

行业标准

备案信息

备案号

50554-2015

备案日期

2015-07-08

起草单位

信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等

起草人

何秀坤、董彦辉、刘兵 等

SJ/T 11497-2015 相关专题

SJ/T 11497-2015 相似标准

标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 11666.6-2016制造执行系统(MES)规范 第6部分:产品测试现行2016-04-052016-07-01
GB/T 30118-2026声表面波(SAW)器件用单晶晶片 规范与测量方法即将实施2026-08-282027-03-01
SJ/T 12093-2025晶片精密研磨盘现行2025-12-192026-07-01
T/CECA 83-2023钽酸锂和铌酸锂还原单晶晶片 明度和色差技术要求及测量方法现行2023-06-132023-06-20
T/CECA 48-2021石英晶体微天平晶片现行2021-03-042021-03-15
T/ZZB 0497-2018声表面波器件用单晶晶片现行2018-08-312018-09-30
T/WLJC 58-2019晶片精密研磨盘用修正轮现行2019-04-222019-04-22
T/WLJC 57-2019晶片精密研磨盘现行2019-04-222019-04-22
T/IAWBS 008-2019SiC晶片的残余应力检测方法现行2019-12-272019-12-31
T/ZSA 38-2020SiC晶片的残余应力检测方法现行2020-12-172020-12-18