Laser and laser-related equipment—Absorption distribution measurement of optical laser components—Photothermal mapping method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 5095.2502-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2307-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2304-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2501-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2504-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2503-2021 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 5095.2506-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| GB/T 5095.2509-2020 | 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰 | 现行 | 2020-04-28 | 2020-11-01 |
| GB/T 3836.30-2021 | 爆炸性环境 第30部分：地下矿井爆炸性环境用设备和元件 | 现行 | 2021-10-11 | 2022-05-01 |
| GB/T 14048.19-2013 | 低压开关设备和控制设备 第5-7部分：控制电路电器和开关元件 用于带模拟输出的接近设备的要求 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-04-09 |
| GB/T 14048.20-2013 | 低压开关设备和控制设备 第5-8部分：控制电路电器和开关元件 三位使能开关 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-04-09 |
| GB/T 14048.21-2013 | 低压开关设备和控制设备 第5-9部分：控制电路电器和开关元件 流量开关 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-04-09 |
| GB/T 14048.15-2006 | 低压开关设备和控制设备 第5-6部分：控制电路电器和开关元件-接近传感器和开关放大器的DC接口（NAMUR） | 现行 | 2006-11-09 | 2007-04-01 |
| SY/T 5027-2012 | 石油钻采设备用气动元件 | 现行 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| GB/T 14048.14-2019 | 低压开关设备和控制设备 第5-5部分：控制电路电器和开关元件 具有机械锁闩功能的电气紧急制动装置 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| GB/T 40852.1-2021 | 高频感性元件 非电特性及其测量方法 第1部分：电子和通信设备用表面安装固定电感器 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| GB/T 2775-2016 | 电子设备用电容器和电阻器 轴端、轴套和单孔轴套安装及轴控电子元件的优选尺寸 | 现行 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| GB/T 14048.10-2016 | 低压开关设备和控制设备 第5-2部分：控制电路电器和开关元件 接近开关 | 废止 | 2016-08-29 | 2017-03-01 |