Resistance welding—Welding current measurement for resistance welding—Part 1: Guidelines for measurement
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22586-2018 | 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻 | 现行 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 7017-1986 | 电阻器非线性测量方法 | 废止 | 1986-11-20 | 1987-09-01 |
| GB/T 19289-2019 | 电工钢带（片）的电阻率、密度和叠装系数的测量方法 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 45506-2025 | 剩余电阻比测量 谐振腔级铌超导体剩余电阻比测量 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-11-01 |
| SJ/T 10690-1996 | 数字直流微电阻测量仪通用规范 | 现行 | 1996-07-22 | 1996-11-01 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 11073-2007 | 硅片径向电阻率变化的测量方法 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 40007-2021 | 纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 12968-1991 | 纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法 | 现行 | 1991-06-04 | 1992-03-01 |
| GB/T 351-2019 | 金属材料 电阻率测量方法 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CPIA 0100-2024 | 光伏电池用掺杂层薄层方块电阻的测量方法 | 现行 | 2024-12-15 | 2024-12-30 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| NB/T 20338-2015 | 核电厂安全重要电阻温度计响应时间原位测量 | 现行 | 2015-04-02 | 2015-09-01 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| JJF 2225-2025 | 高绝缘电阻测量仪(高阻计)校准规范 | 现行 | 2025-03-27 | 2025-09-27 |
| SY/T 5385-2007 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 2007-10-08 | 2008-03-01 |