| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10675-2002 | 电子及电器工业用二氧化硅微粉 | 现行 | 2003-03-01 | 相似 |
| T/CNCIA 01037-2024 | 电子工业用高纯二氧化钛 | 现行 | 2025-12-01 | —— |
| T/DLSHXH 004-2020 | 电子工业用气体 二氧化碳 | 现行 | 2020-10-30 | —— |
| T/DLSHXH 002-2018 | 电子工业用气体 一氧化氮 | 现行 | 2018-09-28 | —— |
| SJ/T 11636-2016 | 电子工业用显影液中四甲基氢氧化铵的测定 自动电位滴定法 | 现行 | 2016-09-01 | 相似 |
| SJ/T 11517-2015 | 电子工业用气体 一氧化碳 | 废止 | 2015-10-01 | 相似 |
| HG/T 2325-2004 | 电子工业用粒状一氧化铅 | 废止 | 2005-06-01 | 相似 |
| GB/T 14600-2009 | 电子工业用气体 氧化亚氮 | 废止 | 2010-05-01 | 相似 |
| T/DLSHXH 004-2020 | 电子工业用气体 二氧化碳 | 现行 | 2020-10-30 | —— |
| T/DLSHXH 002-2018 | 电子工业用气体 一氧化氮 | 现行 | 2018-09-28 | —— |
| HG/T 6546-2026 | 电子工业用氢氧化钾溶液 | 即将实施 | 2027-02-01 | 相似 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2011-08-01 | 相似 |
| GB/T 36655-2018 | 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法 | 现行 | 2019-01-01 | 相似 |
| GB/T 43771-2024 | 电子气体 一氧化碳 | 现行 | 2024-10-01 | 相似 |
| GB/T 10195.2-1997 | 电子设备用压敏电阻器 第2部分:空白详细规范 氧化锌浪涌抑制型压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 1998-09-01 | 相似 |
| GB/T 43772-2024 | 电子气体 二氧化碳 | 现行 | 2024-10-01 | 相似 |
| GB/T 41917-2022 | 纳米技术 电子自旋共振（ESR）法检测金属氧化物纳米材料产生的活性氧（ROS） | 现行 | 2023-05-01 | 相似 |
| SJ/T 10348-2020 | 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYG2型过压保护用氧化锌压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2021-04-01 | 相似 |