| SJ/T 10219-1991 | 薄膜电阻器制造质量控制要点 | 现行 | 1991-12-01 | 相似 |
| T/ACCEM 353-2024 | 车规抗硫化薄膜高精度电阻器的制造工艺技术规范 | 现行 | 2025-01-04 | —— |
| DB52/T 842-2013 | RR1608、RR2012、RR3216型片式薄膜固定电阻器详细规范 | 废止 | 2013-12-01 | 相似 |
| GB/T 12276-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 (可供认证用) | 现行 | 1990-10-01 | 相似 |
| GB/T 12277-1990 | 电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平 E (可供认证用) | 现行 | 1990-10-01 | 相似 |
| GB/T 5735-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5078-1985 | 单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法 | 废止 | 1985-12-01 | 相似 |
| GB/T 5732-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:分规范 功率型固定电阻器(可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5730-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范 低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5733-1985 | 电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范 功率型固定电阻器 评定水平E (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5731-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 5734-1985 | 电子设备用固定电阻器 第五部分:分规范 精密固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1986-09-01 | 相似 |
| GB/T 7154.1-2003 | 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-1部分:限流用空白详细规范 评定水平EZ | 现行 | 2003-06-01 | 相似 |
| GB/T 5729-2003 | 电子设备用固定电阻器 第1部分:总规范 | 现行 | 2004-08-01 | 相似 |
| GB/T 7154.2-2003 | 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-2部分:加热元件用空白详细规范 评定水平EZ | 现行 | 2003-08-01 | 相似 |
| GB/T 7154.3-2003 | 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-3部分:浪涌电流用空白详细规范 评定水平EZ | 现行 | 2003-08-01 | 相似 |
| GB/T 7154.4-2003 | 直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-4部分:敏感用空白详细规范 评定水平EZ | 现行 | 2003-08-01 | 相似 |
| GB/T 10194-1997 | 电子设备用压敏电阻器 第2部分:分规范 浪涌抑制型压敏电阻器 | 现行 | 1998-09-01 | 相似 |