| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 11461.4.1-2025 | 有机发光二极管显示器件 第4-1部分：用于屏下摄像的显示模块详细规范 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| SJ/T 11624-2025 | 发光二极管(LED)显示屏用发光二极管规范 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 29856-2013 | 半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 15529-1995 | 半导体发光数码管空白详细规范 | 现行 | 1995-04-06 | 1995-11-01 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/Z 37664.3-2025 | 纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 16894-1997 | 大于100A，环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 | 现行 | 1997-06-28 | 1998-03-01 |
| GB/T 18802.321-2007 | 低压电涌保护器元件 第321部分：雪崩击穿二极管（ABD）规范 | 现行 | 2007-06-21 | 2008-02-01 |
| GB/T 23729-2009 | 闪烁探测器用光电二极管 试验方法 | 现行 | 2009-05-06 | 2009-12-01 |
| GB/T 30241.2-2013 | 齐纳二极管安全栅 第2部分：性能评定方法 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 7624-2013 | 整流二极管测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| GB/T 44081-2024 | 光伏组件用旁路二极管热失控测试 | 现行 | 2024-05-28 | 2024-12-01 |
| GB/T 44292-2024 | 光伏组件用旁路二极管静电放电敏感度测试 | 现行 | 2024-08-23 | 2024-12-01 |
| JB 5841-1991 | ZH系列200A以上管壳额定高压整流二极管 | 现行 | 1991-10-24 | 1992-10-01 |
| JB 5837-1991 | ZP系列2000A以上管壳额定整流二极管 | 现行 | 1991-10-24 | 1992-10-01 |
| JB 5836-1991 | ZK系列5A以上管壳额定快恢复整流二极管 | 现行 | 1991-10-24 | 1992-10-01 |
| QC/T 706-2004 | 机动车用硅雪崩整流二极管技术条件 | 现行 | 2004-02-10 | 2004-08-01 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |