| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 25075-2010 | 太阳能电池用砷化镓单晶 | 废止 | 2010-09-02 | 2011-04-01 |
| GB/T 26071-2026 | 太阳能电池用硅单晶及硅单晶片 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 18032-2000 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 | 现行 | 2000-04-03 | 2000-09-01 |
| GB/T 10067.410-2014 | 电热装置基本技术条件 第410部分：单晶炉 | 现行 | 2014-12-05 | 2015-04-16 |
| GB/T 44913-2024 | 充填处理单晶体宝石 鉴定与分类 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-06-01 |
| GB/T 47097-2026 | 氮化铝单晶抛光片 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 47080-2026 | 金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 34213-2023 | 蓝宝石单晶用高纯氧化铝 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 25076-2018 | 太阳能电池用硅单晶 | 废止 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 10067.417-2023 | 电热和电磁处理装置基本技术条件 第417部分：碳化硅单晶生长装置 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 41765-2022 | 碳化硅单晶位错密度的测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 30868-2025 | 碳化硅单晶片微管密度测试方法 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 34481-2017 | 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法 | 现行 | 2017-10-14 | 2018-07-01 |
| GB/T 41325-2022 | 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 34210-2017 | 蓝宝石单晶晶向测定方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-06-01 |
| GB/T 29508-2013 | 300mm 硅单晶切割片和磨削片 | 现行 | 2013-05-09 | 2014-02-01 |
| GB/T 47082-2026 | 碳化硅单晶抛光片堆垛层错测试方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 39123-2020 | X射线和γ射线探测器用碲锌镉单晶材料规范 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |