| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/QGCML 4624-2024 | 柔性薄膜压力传感器标定测试方法 | 现行 | 2024-08-16 | 2024-08-31 |
| T/XAI 7-2021 | 覆晶薄膜耐弯折性能测试方法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |
| T/XAI 12-2021 | 覆晶薄膜基板电气检查测试方法 | 现行 | 2021-12-06 | 2021-12-10 |
| T/CGIA 006.1-2024 | 石墨烯材料 特性参数与测试方法——第1部分：薄膜 | 现行 | 2024-06-30 | 2024-06-30 |
| T/CSTM 00313-2021 | 基于光谱反演的光学薄膜常数测试方法 | 现行 | 2021-10-18 | 2022-01-18 |
| T/CSPSTC 25-2019 | 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法 | 现行 | 2019-08-28 | 2019-11-15 |
| GB/T 25256-2026 | 光学功能薄膜 离型膜180°剥离力和残余黏着率测试方法 | 即将实施 | 2026-03-31 | 2026-10-01 |
| JC/T 2409-2017 | 精细陶瓷薄膜结合力测试方法 | 现行 | 2017-04-12 | 2017-10-01 |
| HG/T 6204-2023 | 光学聚酯薄膜 表面低聚物的测试方法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| GB/T 47631-2026 | 光学功能薄膜 表观质量的扫描显微镜测试方法 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |
| GB/T 6616-2009 | 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| T/XAI 7-2021 | 覆晶薄膜耐弯折性能测试方法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |
| T/XAI 8-2021 | 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |
| T/XAI 9-2021 | 覆晶薄膜油墨硬度测试方法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |
| T/CSPSTC 25-2019 | 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法 | 现行 | 2019-08-28 | 2019-11-15 |
| JB/T 14808-2025 | 电气绝缘用聚酯薄膜低聚物含量测试方法 | 现行 | 2025-05-09 | 2025-11-01 |
| T/XAI 9-2021 | 覆晶薄膜油墨硬度测试方法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |
| T/XAI 8-2021 | 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |