Thermo gravimetric analysis (TGA) for determination of oxidation temperature and ash content of carbon nanotubes
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 46147-2025 | 医疗器械生物学评价 纳米颗粒脱落和释放测量 颗粒跟踪分析法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-09-01 |
| GB/T 18735-2014 | 微束分析 分析电镜（ＡＥＭ／ＥＤＳ）纳米薄标样通用规范 | 现行 | 2014-07-24 | 2015-03-01 |
| T/CSP 13-2024 | 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法 | 现行 | 2024-11-18 | 2024-11-25 |
| T/CI 085-2022 | 便携式纳米孔测序数据的获取、处理、传输、储存与分析的技术标准 | 现行 | 2022-10-13 | 2022-10-13 |
| HG/T 3820-2006 | 纳米合成水滑石 分析方法 | 废止 | 2006-07-26 | 2007-03-01 |
| GB/T 18735-2002 | 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范 | 废止 | 2002-05-22 | 2002-12-01 |
| GB/Z 129-2026 | 表面化学分析 电子能谱 纳米颗粒包覆层厚度和组成的测量 | 现行 | 2026-01-28 | |
| T/BSPT 6-2024 | 颗粒技术 微纳米异质结构分析 透射电子显微镜法 | 现行 | 2024-11-18 | 2024-11-25 |
| LY/T 2881-2017 | 木塑复合材料氧化诱导时间和氧化诱导温度的测定方法 | 现行 | 2017-06-05 | 2017-09-01 |
| GB/T 45716-2025 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-09-01 |
| GB/T 19466.6-2009 | 塑料 差示扫描量热法（DSC）第6部分：氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度（动态OIT）的测定 | 现行 | 2009-06-15 | 2010-02-01 |
| SN/T 3950-2014 | 碳氢化合物氧化起始温度测定 差示扫描量热法 | 现行 | 2014-04-09 | 2014-11-01 |
| HG/T 2693-1995 | 一氧化碳高温度换催化剂化学成份的测定 | 废止 | 1995-04-11 | 1996-01-01 |
| GB/T 45716.1-2026 | 半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 第1部分：MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 48164.1-2026 | 半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管（SiC MOSFET）可靠性试验方法 第1部分：偏置温度不稳定性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 40396-2021 | 聚合物基复合材料玻璃化转变温度试验方法 动态力学分析法（DMA） | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| GB/T 36800.2-2018 | 塑料 热机械分析法(TMA) 第2部分：线性热膨胀系数和玻璃化转变温度的测定 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-04-01 |
| GB/T 42919.3-2023 | 塑料 导热系数和热扩散系数的测定 第3部分：温度波分析法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |