半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器

Semiconductor integrated circuits—Digital-analog(DA)converter

GB/T 42973-2023推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-03-05
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GB/T 42973-2023 相似标准 第12页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
SJ/T 10401-1993半导体集成音响奄路马达稳速电路测试方法的基本原理现行1993-09-281994-01-01
GB/T 6814-1986半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种废止1986-08-271987-08-01
GB/T 6813-1986半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种废止1986-08-271987-08-01
GB/T 6815-1986半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种废止1986-08-271987-08-01
GB/T 6812-1986半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种废止1986-08-271987-08-01
GB/T 3435-1987半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种废止1987-01-211987-08-01
GB/T 9423-1988半导体集成TTL电路系列和品种 54/74 ALS 系列的品种废止1988-06-231989-02-01
GB/T 35004-2018数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范现行2018-03-152018-08-01
YD/T 2086-2010CDMA数字蜂窝移动通信网通用集成电路卡(UICC)与终端间接口测试方法:CSIM应用特性现行2010-12-292011-01-01
YD/T 3792-2020数字移动通信终端通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)技术要求现行2020-12-092021-01-01
YD/T 3794-2020数字移动通信终端通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)技术要求现行2020-12-092021-01-01
YD/T 3793.1-2020数字移动通信终端通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)测试方法 第1部分:终端特性现行2020-12-092021-01-01
YD/T 3793.2-2020数字移动通信终端通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间单线协议(SWP)测试方法 第2部分:UICC特性现行2020-12-092021-01-01
YD/T 3795.1-2020数字移动通信终端通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法 第1部分:终端特性现行2020-12-092021-01-01
YD/T 3795.2-2020数字移动通信终端通用集成电路卡(UICC)与非接触通信模块(CLF)间主控接口(HCI)测试方法 第2部分:UICC特性现行2020-12-092021-01-01
SJ/T 10428-199354/74HC、54/74HCT、54/74HCV系列高速CMOS数字集成电路空白详细规范现行1993-12-171994-06-01
SJ/T 10196-1991中小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法现行1991-05-281991-12-01
SJ/T 10195-1991中小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件现行1991-05-281991-12-01