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YS/T 1166-2016
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高纯四氯化锗红外透过率的测定方法 |
现行 |
2017-01-01 |
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YS/T 1313-2019
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高纯镁挤压棒材 |
现行 |
2020-01-01 |
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YS/T 1287-2018
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高纯镉化学分析方法 镁、铝、钙、铬、铁、镍、铜、锌、银、锡、锑、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法 |
现行 |
2019-04-01 |
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YS/T 244.5-2008
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高纯铝化学分析方法 第5部分：阳极溶出伏安法测定铜、锌和铅含量 |
现行 |
2008-09-01 |
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YS/T 1565-2022
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热喷涂用高纯氧化铝粉末 |
现行 |
2023-04-01 |
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YS/T 244.7-2008
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高纯铝化学分析方法 第7部分：二硫腙萃取光度法测定镉含量 |
现行 |
2008-09-01 |
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YS/T 1086-2015
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高纯锑化学分析方法 镁、锰、铁、镍、铜、锌、砷、硒、银、镉、金、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法 |
现行 |
2015-10-01 |
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YS/T 1628-2023
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高纯超细球形铝及铝合金粉 |
现行 |
2024-07-01 |
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YS/T 1636-2023
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电子薄膜用高纯铜环 |
现行 |
2024-07-01 |
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YS/T 899-2024
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高纯钽化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 |
现行 |
2025-05-01 |
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YS/T 13-2015
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高纯四氯化锗 |
现行 |
2015-10-01 |
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YS/T 546-2021
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高纯碳酸锂 |
现行 |
2022-04-01 |
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YS/T 980-2014
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高纯三氧化二镓杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 |
现行 |
2015-04-01 |
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YS/T 1025-2015
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电子薄膜用高纯钨及钨合金溅射靶材 |
现行 |
2015-10-01 |
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YS/T 1053-2015
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电子薄膜用高纯钴靶材 |
现行 |
2015-10-01 |
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YS/T 38.3-2023
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高纯镓化学分析方法 第3部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 |
现行 |
2023-11-01 |
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YS/T 1599-2023
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高纯锆化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 |
现行 |
2023-11-01 |
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YS/T 981.1-2024
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高纯铟化学分析方法 第1部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 |
现行 |
2025-05-01 |
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