| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 10417-2008 | 碳化钨钢结硬质合金技术条件及其力学性能的测试方法 | 废止 | 2009-02-01 | 找相似 |
| SJ/T 11499-2015 | 碳化硅单晶电学性能的测试方法 | 废止 | 2015-10-01 | 找相似 |
| SN/T 1039-2002 | 进出口吨包装碳化硅取样制样方法 | 废止 | 2002-06-01 | 找相似 |
| JB/T 6371-1992 | 碳化纤维纺织填料 试验方法 | 废止 | 1993-01-01 | 找相似 |
| GB/T 16104-1995 | 车间空气中钨或碳化钨的硫氰酸钾-三氯化钛分光光度测定方法 | 废止 | 1996-07-01 | 找相似 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-31 | —— |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | —— |
| T/IAWBS 006-2018 | 碳化硅混合模块测试方法 | 现行 | 2018-12-17 | —— |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-17 | —— |
| T/IAWBS 002-2017 | 碳化硅外延片表面缺陷测试方法 | 现行 | 2017-12-31 | —— |
| HS/T 56-2017 | 球形碳化钨硬质合金粉的鉴定方法 | 现行 | 2017-08-01 | 找相似 |
| T/CSAE 232-2021 | 电动汽车碳化硅电机控制器效率测试方法 | 现行 | 2021-10-26 | —— |
| T/IAWBS 021-2024 | 碳化硅晶片边缘轮廓检验方法 | 现行 | 2024-04-09 | —— |
| T/CHBAS 58-2024 | 钢中非金属夹杂物和碳化物智能金相检测方法 | 现行 | 2024-05-22 | —— |
| SJ/T 12032-2025 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 | 现行 | 2026-03-01 | 找相似 |