Optics and photonics—Microlens array—Part 2:Test methods for wavefront aberrations
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| JB/T 11279-2012 | 无损检测仪器 线阵列涡流探头 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| GB/T 35895-2018 | 微阵列生物芯片反应仪技术要求 | 现行 | 2018-02-06 | 2018-09-01 |
| DB65/T 3462-2013 | 光伏阵列汇流箱技术规范 | 废止 | 2013-01-01 | 2013-02-01 |
| SY/T 6906-2012 | 多极子阵列声波测井仪 | 废止 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| GB/T 45391-2025 | 无损检测仪器 涡流检测设备 阵列探头性能和检验 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| SJ/T 10607-1994 | 半导体集成电路门阵列设计总则 | 现行 | 1994-10-11 | 1995-04-01 |
| SJ/T 11527-2015 | 磁盘阵列通用规范 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11706-2018 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11714-2018 | 扬声器线阵列用声波导主要性能测试方法 | 现行 | 2018-04-30 | 2018-07-01 |
| GB/T 37978-2019 | 信息技术 存储管理应用 盘阵列存储管理接口 | 现行 | 2019-08-30 | 2020-03-01 |
| GB/T 33806-2017 | 面阵荧光成像微阵列芯片扫描仪技术要求 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| GB/T 17444-2013 | 红外焦平面阵列参数测试方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 28639-2012 | DNA微阵列芯片通用技术条件 | 现行 | 2012-07-31 | 2012-11-01 |
| GB/T 28641-2012 | 蛋白质微阵列芯片通用技术条件 | 现行 | 2012-07-31 | 2012-11-01 |
| GB/T 38240-2019 | 无损检测仪器 射线数字探测器阵列制造特征 | 现行 | 2019-10-18 | 2020-05-01 |
| GB/T 47010-2026 | 铈掺杂钆镓铝石榴石多晶闪烁体阵列 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| T/CS 020-2024 | 无损检测-金属材料涡流阵列检测技术规范 | 现行 | 2025-03-05 | 2025-03-20 |
| T/JSJTQX 66-2024 | 水泥混凝土内部钢筋阵列超声法 检测技术规程 | 现行 | 2025-01-20 | 2025-02-01 |