Noise suppression sheet for digital devices and equipment—Part 3: Characterization of parameters of noise suppression sheet
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 40675.3-2021 | 数字器件和设备用噪声抑制片 第3部分：噪声抑制片的参数特性 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 40675.2-2021 | 数字器件和设备用噪声抑制片 第2部分：测量方法 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| GB/T 40675.1-2021 | 数字器件和设备用噪声抑制片 第1部分：定义和一般性能 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| YD/T 3111-2016 | 通信终端设备环境噪声抑制性能要求和测试方法 | 废止 | 2016-07-11 | 2016-10-01 |
| YD/T 3111-2025 | 通信终端设备环境噪声抑制性能要求和测试方法 | 现行 | 2025-04-10 | 2025-08-01 |
| GB/T 7343-2017 | 无源EMC滤波器件抑制特性的测量方法 | 现行 | 2017-07-31 | 2018-02-01 |
| SJ/T 10348-2020 | 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYG2型过压保护用氧化锌压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 10349-2020 | 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYG3型过压保护用氧化锌压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 2307.1-2020 | 电子元器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYL1型防雷用氧化锌压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11845.3-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第3部分：二极管 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11845.2-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11845.1-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第1部分：通用要求 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| GB/T 4937.16-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND） | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| SJ/T 11766-2020 | 光电耦合器件低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11769-2020 | 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| GB/T 10194-1997 | 电子设备用压敏电阻器 第2部分:分规范 浪涌抑制型压敏电阻器 | 现行 | 1997-12-09 | 1998-09-01 |
| GB/T 10195.2-1997 | 电子设备用压敏电阻器 第2部分:空白详细规范 氧化锌浪涌抑制型压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 1997-12-09 | 1998-09-01 |
| GB/T 10195.1-1997 | 电子设备用压敏电阻器 第2部分:空白详细规范 碳化硅浪涌抑制型压敏电阻器 评定水平E | 现行 | 1997-12-09 | 1998-09-01 |