Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 45411.2-2025 | 光学和光子学 瞄准望远镜规范 第 2 部分：高性能仪器 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 47243-2026 | 光学和光子学 光学元件 复杂曲面光学元件几何参数测试方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-06-01 |
| YY 1296-2016 | 光学和光子学 手术显微镜 眼科用手术显微镜的光危害 | 现行 | 2016-03-23 | 2018-01-01 |
| GB/T 26332.1-2018 | 光学和光子学 光学薄膜 第1部分：定义 | 废止 | 2018-03-15 | 2018-10-01 |
| GB/T 11239.1-2025 | 光学和光子学 手术显微镜 第1部分：要求和试验方法 | 即将实施 | 2025-06-30 | 2027-07-01 |
| GB/T 45410.7-2026 | 光学和光子学 望远镜系统试验方法 第7部分：极限分辨力 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 26332.4-2026 | 光学和光子学 光学薄膜 第4部分：摩擦、附着力和耐水性的试验方法 | 即将实施 | 2026-02-27 | 2026-06-01 |
| GB/T 45410.5-2026 | 光学和光子学 望远镜系统试验方法 第5部分：透射率 | 即将实施 | 2026-04-30 | 2026-11-01 |
| GB/T 11239.2-2026 | 光学和光子学 手术显微镜 第2部分：眼科用手术显微镜的光危害 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2029-05-01 |
| SJ/T 11405-2009 | 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
| GB/T 40852.1-2021 | 高频感性元件 非电特性及其测量方法 第1部分：电子和通信设备用表面安装固定电感器 | 现行 | 2021-11-26 | 2022-06-01 |
| GB/T 46075.2-2025 | 电子束焊机验收检验 第2部分：加速电压特性的测量 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB/T 46075.3-2025 | 电子束焊机验收检验 第3部分：电子束电流特性的测量 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |
| GB 15734-1995 | 电子调光设备无线电骚扰特性限值及测量方法（外文版EN） | 废止 | ||
| SJ 10346-1997 | 电子乐器干扰特性限值和测量方法 | 废止 | 1997-12-24 | 1998-05-01 |
| GB 15734-1995 | 电子调光设备无线电骚扰特性限值及测量方法 | 废止 | 1995-11-06 | 1996-12-01 |
| GB/T 28880-2012 | 无损检测 不用电子测量仪器对脉冲反射式超声检测系统性能特性的评定 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 11313.4-2007 | 射频连接器 第4部分：外导体内径为16mm(0.63in)、特性阻抗为50Ω、螺纹连接的射频同轴连接器(7-16型) | 现行 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |