Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB34/T 3110-2018 | 超导回旋加速器 主磁铁气隙中平面磁场测量方法 | 废止 | 2018-04-16 | 2018-05-16 |
| GB/T 41640-2022 | 临界电流测量 第二代高温超导长带临界电流及其沿长度方向均匀性测量（外文版EN） | 现行 | 2024-09-02 | |
| GB/T 44371-2024 | 临界弯曲直径测量 液氮温区Bi-2223超导带材的临界弯曲直径测量（外文版EN） | 现行 | 2025-07-04 | |
| GB/T 42472-2023 | 临界电流测量 银包套Bi-2223超导线室温双弯曲后的保留临界电流 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| GB/T 39722-2020 | 超导电子器件 传感器和探测器通用规范 | 现行 | 2020-12-14 | 2021-07-01 |
| GB/T 26332.4-2015 | 光学和光子学 光学薄膜 第4部分：规定的试验方法 | 废止 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |
| GB/T 41869.1-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分：术语 | 现行 | 2022-10-12 | 2022-10-12 |
| GB/T 12085.3-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第3部分：机械作用力 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12085.17-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第17部分：污染、太阳辐射综合试验 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 26332.3-2015 | 光学和光子学 光学薄膜 第3部分：环境适应性 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |
| GB/T 12085.22-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第22部分: 低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12085.14-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第14部分：露、霜、冰 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12085.20-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第20部分:含二氧化硫、硫化氢的湿空气 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12085.12-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第12部分：污染 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12085.9-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第9部分：太阳辐射与风化 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 41869.2-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 26332.7-2022 | 光学和光子学 光学薄膜 第7部分：中性分束膜基本要求 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12085.23-2022 | 光学和光子学 环境试验方法 第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |