Electronic characteristic measurements—Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SJ/T 10584-1994 | 微电子学光掩蔽技术术语 | 现行 | 1994-08-08 | 1994-12-01 |
| GB/T 36366-2018 | 信息技术 学习、教育和培训 电子学档信息模型规范 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| GB/T 44928-2024 | 微电子学微光刻技术术语 | 现行 | 2024-12-31 | 2024-12-31 |
| T/SCIPA 002-2024 | 电子学生证通用技术要求和测试方法 | 现行 | 2023-05-25 | 2023-05-25 |
| T/SCIPA 002-2023 | 电子学生证通用技术要求和测试方法 | 现行 | 2023-05-25 | 2023-05-25 |
| SJ/T 11777-2021 | 半导体管特性图示仪校准仪技术要求和测量方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| GB/Z 37664.3-2025 | 纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命 | 现行 | 2025-12-03 | |
| GB/T 15651.2-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| YD/T 2001.1-2009 | 用于光纤系统的半导体光电子器件 第1部分：基本特性和额定值 | 现行 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |
| GB/T 42709.35-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第35部分：柔性MEMS器件弯曲形变下的电特性测试方法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| GB/T 41640-2022 | 临界电流测量 第二代高温超导长带临界电流及其沿长度方向均匀性测量 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 31527-2015 | 力学性能测量 NbTi/Cu复合超导线室温拉伸试验方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2015-12-01 |
| GB/T 30109-2013 | 交流损耗测量 液氦温度下横向交变磁场中圆形截面超导线总交流损耗的探测线圈测量法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| GB/T 21227-2021 | 交流损耗测量 多丝复合超导材料磁滞损耗的磁强计测量法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 38841-2020 | 力学性能测量 反应后的Nb3Sn复合超导线室温拉伸试验方法 | 现行 | 2020-06-02 | 2021-01-01 |
| DB34/T 3180-2018 | 超导回旋加速器 圆柱面Br平均值磁场测定——探测线圈测量方法 | 废止 | 2018-08-08 | 2018-09-08 |
| DB34/T 3112-2018 | 超导回旋加速器 潘宁内离子源测试平台磁场测量方法 | 废止 | 2018-04-16 | 2018-05-16 |
| GB/T 44371-2024 | 临界弯曲直径测量 液氮温区Bi-2223超导带材的临界弯曲直径测量 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |