Microbeam analysis—Electron probe microanalyser (EPMA)—Guidelines for performing quality assurance procedures
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 15394-2026 | 多探针测试台通用技术条件 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 28873-2012 | 纳米颗粒生物形貌效应的环境扫描电子显微镜检测方法通则 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 27765-2011 | SiO2、TiO2、Fe3O4及Al2O3纳米颗粒生物效应的透射电子显微镜检测方法 | 现行 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| GA/T 1937-2021 | 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| GA/T 1939-2021 | 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| GA/T 1938-2021 | 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| SN/T 2649.1-2010 | 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分：X射线衍射-扫描电子显微镜法 | 现行 | 2010-11-01 | 2011-05-01 |
| GB/T 5594.8-2015 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 | 现行 | 2015-05-15 | 2016-01-01 |
| SF/T 0139-2023 | 泥土检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2023-10-07 | 2023-12-01 |
| GB/T 30543-2014 | 纳米技术 单壁碳纳米管的透射电子显微术表征方法 | 现行 | 2014-05-06 | 2014-11-01 |
| GB/Z 21738-2008 | 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法 | 现行 | 2008-05-08 | |
| GB/T 4937.35-2024 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑封电子元器件的声学显微镜检查 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 43196-2023 | 纳米技术 扫描电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-04-01 |
| JB/T 9352-1999 | 透射电子显微镜 试验方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| DB32/T 3459-2018 | 石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法 | 现行 | 2018-11-09 | 2018-11-30 |
| GA/T 909-2010 | 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物 | 现行 | 2010-12-08 | 2010-12-08 |
| GB/T 45114-2024 | 纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布 | 现行 | 2024-12-31 | 2025-07-01 |
| GB/T 32869-2016 | 纳米技术 单壁碳纳米管的扫描电子显微术和能量色散X射线谱表征方法 | 现行 | 2016-08-29 | 2017-03-01 |