| DL/T 1156-2025 | 串联补偿装置用金属氧化物限压器 | 现行 | 2025-12-30 | 找相似 |
| GB/T 34869-2017 | 串联补偿装置电容器组保护用金属氧化物限压器 | 现行 | 2018-05-01 | 找相似 |
| DL/T 1156-2012 | 串联补偿装置用金属氧化物限压器 | 废止 | 2012-12-01 | 找相似 |
| T/CPSS 1003-2019 | 交流输入电压暂降与短时中断的低压直流型补偿装置技术规范 | 现行 | 2019-08-01 | —— |
| T/CPSS 1003-2019 | 交流输入电压暂降与短时中断的低压直流型补偿装置技术规范 | 现行 | 2019-08-01 | —— |
| GB/Z 151-2026 | 高压直流系统、静止无功补偿装置和柔性交流输电系统用换流器及其阀厅的防火措施 | 现行 | —— | 找相似 |
| GB/T 16649.6-2001 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第6部分:行业间数据元 | 现行 | 2001-10-01 | 找相似 |
| GB/T 16649.7-2000 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第7部分:用于结构化卡查询语言(SCQL)的行业间命令 | 现行 | 2001-10-01 | 找相似 |
| GB/T 16649.8-2002 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第8部分:与安全相关的行业间命令 | 现行 | 2003-05-01 | 找相似 |
| GB/T 16649.10-2002 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第10部分:同步卡的电信号和复位应答 | 现行 | 2003-05-01 | 找相似 |
| GB/T 16649.1-2006 | 识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 | 现行 | 2006-07-01 | 找相似 |
| GB/T 17554.3-2006 | 识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备 | 现行 | 2006-07-01 | 找相似 |
| GB/T 15078-2021 | 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 | 现行 | 2022-03-01 | 找相似 |
| GB/T 22351.1-2008 | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性 | 现行 | 2009-01-01 | 找相似 |
| GB/T 16649.12-2010 | 识别卡 集成电路卡 第12部分：带触点的卡-USB电气接口和操作规程 | 现行 | 2011-04-01 | 找相似 |
| GB/T 22351.2-2010 | 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第2部分：空中接口和初始化 | 现行 | 2011-04-01 | 找相似 |
| GB/T 2423.20-2014 | 环境试验 第2部分：试验方法 试验Kd：接触点和连接件的硫化氢试验 | 现行 | 2015-04-01 | 找相似 |
| GB/T 2424.12-2014 | 环境试验 第2部分：试验方法 试验Kd：接触点和连接件的硫化氢试验导则 | 现行 | 2015-04-01 | 找相似 |