环境试验 第2部分:试验方法 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验导则

Environmental testing—Part 2: Test methods—Guidance to test Kd: Hydrogen sulphide test for contacts and connections

GB/T 2424.12-2014推荐性国家标准

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GB/T 2424.12-2014 相似标准 第1页

更新时间 2026-10-25
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GB/T 2423.20-2014环境试验 第2部分:试验方法试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验现行2015-04-01相似
GB/T 2424.12-2014环境试验 第2部分:试验方法试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验导则现行2015-04-01相似
GB/T 2424.11-2013环境试验 第2部分:试验方法试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验导则现行2014-03-07相似
GB/T 2423.19-2013环境试验 第2部分:试验方法试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫试验现行2014-03-07相似
GB/T 15078-2021贵金属电触点材料接触电阻的测量方法现行2022-03-01相似
GB/T 15078-2008贵金属电触点材料接触电阻的测量方法废止2008-09-01相似
JB/T 13751-2020微电机用电刷及触点抗压强度试验方法现行2021-01-01相似
JB/T 13752-2020微电机用电刷及触点肖氏硬度试验方法现行2021-01-01相似
JB/T 12254-2015微电机用电刷及触点电阻率试验方法现行2016-03-01相似
JB/T 9233.13-1999工业自动化仪表 通用试验方法 触点电阻废止2000-01-01相似
SJ/T 10131-1991电气继电器第十四部分:电气继电器触点的寿命试验-触点负载的优先值现行1991-07-01相似
GB/T 14598.4-1993电气继电器 第十四部分:电气继电器触点的寿命试验 触点负载的优先值废止1994-04-01相似
GB/T 14598.5-1993电气继电器 第十五部分:电气继电器触点的寿命试验试验设备的特性规范废止1994-04-01相似
GB/T 17554.3-2006识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备现行2006-07-01相似
GB/T 16649.6-2001识别卡 带触点的集成电路卡 第6部分:行业间数据元现行2001-10-01相似
GB/T 16649.7-2000识别卡 带触点的集成电路卡 第7部分:用于结构化卡查询语言(SCQL)的行业间命令现行2001-10-01相似
GB/T 16649.8-2002识别卡 带触点的集成电路卡 第8部分:与安全相关的行业间命令现行2003-05-01相似
GB/T 16649.10-2002识别卡 带触点的集成电路卡 第10部分:同步卡的电信号和复位应答现行2003-05-01相似