JB/T 4310-1999 相似标准 第4页

更新时间 2026-10-27
标准号标准名称状态实施日期相似标准
JB/T 3847-2024开式压力机紧固模具用槽、孔的分布形式与尺寸现行2025-01-01找相似
GB/T 15936.10-1996信息处理 文本和办公系统 办公文件体系结构(ODA)和交换格式 第10部分:形式规范现行1997-07-01找相似
HG/T 4299-2018搪玻璃薄膜蒸发器 结构形式和基本参数现行2019-04-01找相似
CB/T 3368-1991船体防火分隔典型耐火结构形式废止1992-07-01找相似
HG/T 4299-2012搪玻璃薄膜蒸发器 结构形式和基本参数废止2012-11-01找相似
GB/T 16649.6-2001识别卡 带触点的集成电路卡 第6部分:行业间数据元现行2001-10-01找相似
GB/T 16649.8-2002识别卡 带触点的集成电路卡 第8部分:与安全相关的行业间命令现行2003-05-01找相似
GB/T 16649.10-2002识别卡 带触点的集成电路卡 第10部分:同步卡的电信号和复位应答现行2003-05-01找相似
GB/T 16649.1-2006识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性现行2006-07-01找相似
GB/T 17554.3-2006识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备现行2006-07-01找相似
GB/T 15078-2021贵金属电触点材料接触电阻的测量方法现行2022-03-01找相似
GB/T 22351.1-2008识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性现行2009-01-01找相似
GB/T 16649.12-2010识别卡 集成电路卡 第12部分:带触点的卡-USB电气接口和操作规程现行2011-04-01找相似
GB/T 22351.2-2010识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第2部分:空中接口和初始化现行2011-04-01找相似
GB/T 2423.20-2014环境试验 第2部分:试验方法 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验现行2015-04-01找相似
GB/T 2424.12-2014环境试验 第2部分:试验方法 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验导则现行2015-04-01找相似
GB/T 16649.5-2002识别卡 带触点的集成电路卡 第5部分:应用标识符的国家编号体系和注册规程现行2002-10-01找相似
JB/T 5535-2008金属触点式单键开关技术条件现行2008-11-01找相似