| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 351-2019 | 金属材料 电阻率测量方法 | 现行 | 2019-03-25 | 2020-02-01 |
| GB/T 11073-2025 | 硅片径向电阻率变化测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CPIA 0100-2024 | 光伏电池用掺杂层薄层方块电阻的测量方法 | 现行 | 2024-12-15 | 2024-12-30 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| SJ/T 2658.5-2015 | 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻 | 现行 | 2015-10-10 | 2016-04-01 |
| SJ/T 11487-2015 | 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SY/T 5385-2007 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 2007-10-08 | 2008-03-01 |
| SY/T 6712-2008 | 岩样复电阻率实验室测量方法 | 废止 | 2008-06-16 | 2008-12-01 |
| JB/T 10500.1-2005 | 电机用埋置式热电阻 第1部分：一般规定、测量方法和检验规则 | 废止 | 2005-02-14 | 2005-08-01 |
| SY/T 5385-1991 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 1991-07-19 | 1991-02-01 |
| GB/T 351-1995 | 金属材料电阻系数测量方法 | 废止 | 1995-04-11 | 1995-12-01 |
| GB/T 19289-2003 | 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 | 废止 | 2003-09-12 | 2004-04-01 |
| GB/T 15078-2008 | 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 | 废止 | 2008-03-31 | 2008-09-01 |
| GB/T 7017-2025 | 电阻器非线性测量方法 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| GB/T 7016-2025 | 固定电阻器电流噪声测量方法 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |