Inorganic chemicals for industrial use―Determination of impurity anions―Ion chromatography method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB51/T 2038-2015 | 钒铝合金 硅、铁等15种杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 废止 | 2015-09-25 | 2016-01-01 |
| DB36/T 814.2-2014 | 钬铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 | 废止 | 2014-11-27 | 2015-03-01 |
| GB/T 12690.5-2003 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 铝、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、铅的测定 电感耦合等离子体发射光谱法(方法1) 钴、锰、铅、镍、铜、锌、铝、铬的测定 电感耦合等离子体质谱法(方法2) | 废止 | 2003-11-18 | 2004-06-01 |
| GB/T 12690.12-2003 | 稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法 钍量的测定 偶氮胂III分光光度法和电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2003-11-18 | 2004-06-01 |
| GB/T 24582-2009 | 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 | 废止 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 26416.2-2010 | 镝铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定 电感耦合等离子发射光谱法 | 废止 | 2011-01-14 | 2011-11-01 |
| DB35/T 944-2009 | 纯氢、高纯氢、超纯氢中杂质含量的测定 氦放电离子化气相色谱法 | 废止 | 2009-05-26 | 2009-05-30 |
| DB53/T 501-2013 | 多晶硅用三氯氢硅杂质元素含量测定 电感耦合等离子体质谱法 | 废止 | 2013-08-01 | 2013-10-01 |
| DB15/T 688.1-2014 | 二氧化钍粉末化学分析方法 第1部分：二氧化钍粉末中铝、镍等22种杂质元素的测定—电感耦合等离子体发射光谱法 | 废止 | 2014-03-20 | 2014-05-15 |
| T/CMES 08001-2020 | 铬铁 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原发射光谱法 | 现行 | 2020-12-07 | 2020-12-07 |
| T/CMES 08002-2020 | 铌铁 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2020-12-07 | 2020-12-07 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/CASAS 010-2019 | 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| YS/T 903.3-2025 | 回收铟原料化学分析方法 第3部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-07-02 | 2026-02-01 |
| YS/T 539.9-2024 | 镍基合金粉化学分析方法 第9部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 568.9-2025 | 氧化锆、氧化铪化学分析方法第 9 部分：氧化铪中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 568.8-2025 | 氧化锆、氧化铪化学分析方法第 8 部分：氧化锆中杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 555.8-2025 | 钼精矿化学分析方法 第 8 部分： 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |