Capability of detection—Part 5: Methodology in the linear and nonlinear calibration cases
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 27415-2013 | 分析方法检出限和定量限的评估 | 现行 | 2013-09-06 | 2013-12-01 |
| GB/T 26823-2011 | 基于信用原则控制检出质量的零接收数计数抽样检验系统 | 现行 | 2011-07-29 | 2011-12-01 |
| GB/T 40339-2021 | 金属和合金的腐蚀 服役中检出的应力腐蚀裂纹的重要性评估导则 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| T/SDG 002-2020 | 中空玻璃用干燥剂中掺杂物（氯化钙、氧化钙）检出的试验方法 | 现行 | 2020-11-10 | 2020-12-01 |
| T/SDG 002-2020 | 中空玻璃用干燥剂中掺杂物（氯化钙、氧化钙）检出的试验方法 | 现行 | 2020-11-10 | 2020-12-01 |
| GB/T 29820.1-2013 | 流量测量装置校准和使用不确定度的评估 第1部分：线性校准关系 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-03-15 |
| GB/T 22554-2010 | 基于标准样品的线性校准 | 现行 | 2010-09-02 | 2011-04-01 |
| DB14/T 3568-2025 | 检验检测机构线性校准曲线质量控制指南 | 现行 | 2025-09-30 | 2025-12-31 |
| T/SXCAA 012-2021 | 线性校准曲线质量控制指南 | 现行 | 2021-09-22 | 2021-09-27 |
| GB/T 5730-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范 低功率非线绕固定电阻器 (可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 5731-1985 | 电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) | 现行 | 1985-11-26 | 1986-09-01 |
| GB/T 16515-2023 | 电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器 | 现行 | 2023-09-07 | 2024-01-01 |
| GB/T 16515-1996 | 电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器 | 废止 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |
| GB/T 17034-1997 | 电子设备用固定电阻器 第2部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平F | 废止 | 1997-10-13 | 1998-09-01 |
| SH/T 0920-2016 | 高赫兹接触压力下润滑脂抗微动磨损能力的测定 高频线性振动试验机法 | 现行 | 2016-12-05 | 2017-05-01 |
| SJ/T 10617-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT13型碳膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |
| SJ/T 10872-2000 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ15型金属膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2000-08-16 | 2000-10-01 |
| SJ/T 10774-2017 | 电子元器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RT14型碳膜固定电阻器 评定水平E | 现行 | 2017-11-07 | 2018-01-01 |